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dc.rights.licensehttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/ve/
dc.contributor.authorKassim, Anuar
dc.contributor.authorAbdullah, Abdul Halim
dc.contributor.authorMin, Ho Soon
dc.contributor.authorNagalingam, Saravanan
dc.date.accessioned2011-01-25T19:54:56Z
dc.date.available2011-01-25T19:54:56Z
dc.date.issued2011-01-25T19:54:56Z
dc.identifier.isbn1856-3201es_VE
dc.identifier.urihttp://www.saber.ula.ve/handle/123456789/32213
dc.description.abstractPelículas delgadas de sulfuro de manganeso fueron depositadas químicamente a partir de soluciones acuosas que contenían sulfato de manganeso, tiosulfato de sodio y tartrato de sodio. Se investigó la influencia del tiempo de deposición (2, 3, 6 y 8 días) sobre las propiedades de las películas. La estructura y morfología de las películas fue estudiada empleando difracción de rayos X (DRX) y microscopía de fuerza atómica (MFA). Adicionalmente, a objeto de estudiar las propiedades ópticas de las películas se empleó la espectroscopia UV-visible. Los resultados de la DRX indicaron que las películas de MnS2 depositadas poseen una estructura cúbica policristalina. El número de picos observados en el patrón de la DRX se incrementa de tres a seis y luego disminuye a cinco, a medida que el tiempo de deposición aumentaba de 2 a 8 días. A partir de los estudios de MFA, se encontró que el grosor y la rugosidad de las películas de MnS2 dependen del tiempo de deposición.es_VE
dc.language.isoeses_VE
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectPropiedades ópticases_VE
dc.subjectSulfuro de manganesoes_VE
dc.subjectPelículas delgadases_VE
dc.subjectDifracción de rayos-Xes_VE
dc.titleInfluence of deposition time on the properties of chemical bath deposited manganese sulfide thin filmses_VE
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.description.abstract1Manganese sulfide thin films were chemically deposited from an aqueous solution containing manganese sulfate, sodium thiosulfate and sodium tartrate. The influence of deposition time (2, 3, 6 and 8 days) on the properties of thin films was investigated. The structure and surface morphology of the thin films were studied by X-ray diffraction and atomic force microscopy, respectively. In addition, in order to investigate the optical properties of the thin films, the UV-visible spectrophotometry was used. The XRD results indicated that the deposited MnS2 thin films exhibited a polycrystalline cubic structure. The number of MnS2 peaks on the XRD patterns initially increased from three to six peaks and then decreased to five peaks, as the deposition time was increased from 2 to 8 days. From the AFM measurements, the film thickness and surface roughness were found to be dependent on the deposition time.es_VE
dc.description.colacion141-145es_VE
dc.description.emailsoonminho@yahoo.comes_VE
dc.description.frecuenciacuatrimestrees_VE
dc.identifier.depositolegal200502ME2052es_VE
dc.subject.departamentoDepartamento de Químicaes_VE
dc.subject.facultadFacultad de Cienciases_VE
dc.subject.keywordsOptical propertieses_VE
dc.subject.keywordsManganese sulfidees_VE
dc.subject.keywordsThin filmses_VE
dc.subject.keywordsX-ray diffractiones_VE
dc.subject.publicacionelectronicaRevista Avances en Químicaes_VE
dc.subject.seccionRevista Avances en Química: Artículos Científicoses_VE
dc.subject.thematiccategoryQuímicaes_VE
dc.subject.tipoRevistases_VE
dc.type.mediaTextoes_VE


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